JIS K0149-1-2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
作者:标准资料网 时间:2024-05-02 06:56:23 浏览:9227
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Microbeamanalysis--Scanningelectronmicroscopy--Guidelinesforcalibratingimagemagnification
【原文标准名称】:微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
【标准号】:JISK0149-1-2008
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2008-02-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,認証標準物質(以下,CRMという。)又は標準物質(以下,RMという。)を用いて走査電子顕微鏡(以下,SEMという。)の像倍率の校正方法について規定する。ただし,この規格は測長SEMには適用しない。たお,この規格の校正の倍率節囲は,用いるCRM又はRMによって制約を受ける。
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:20P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
【标准号】:JISK0149-1-2008
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2008-02-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,認証標準物質(以下,CRMという。)又は標準物質(以下,RMという。)を用いて走査電子顕微鏡(以下,SEMという。)の像倍率の校正方法について規定する。ただし,この規格は測長SEMには適用しない。たお,この規格の校正の倍率節囲は,用いるCRM又はRMによって制約を受ける。
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:20P;A4
【正文语种】:日语
下载地址: 点击此处下载
